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磁粉探傷標準試片的應用

一、本內(nèi)容規(guī)定了鐵磁材料及其制品磁粉探傷的一般方法和交叉磁軛探傷方法、缺陷磁痕的分類等內(nèi)容。

二本內(nèi)容適用于檢驗鐵磁材料及其制品(以下稱試件)表面或近表面的裂紋和其他缺陷。

三、本內(nèi)容對磁粉探傷所用的各種設備器材及其技術要求、探傷時機安排，不同的探傷實施方法及各自的特長與適用范圍、檢驗程序與要領、顯示的磁痕判別與分類等進行了扼要的描述和規(guī)定，它可作為任何部件磁粉探傷規(guī)程編制的依據(jù)。

四、一個有效的磁粉探傷方法，最基本的要求應該是這樣的。其所用磁化方法建立于被檢件上的磁場，應盡可能與缺陷預計方向垂直，且應有足夠的場強；當用選定的標準試片(塊)校驗時，試片上要求檢出的人工缺陷處形成的漏磁場應能充分吸附施加的磁粉，形成清晰可見的磁痕。

1標準試片及對比試片

1.1A型標準試片

1.1.1A型標準試片用來檢查探傷裝置、磁粉、磁懸液的綜合性能以及連續(xù)法中試件表面的有效磁場強度和方向、有效探傷范圍、探傷操作是否正確等。這種試片必須經(jīng)有關計量部門鑒定。

1.1.2A型標準試片分高、中，低三種靈敏度。其型號中的分數(shù)值越小，則要求能顯示磁痕的有效磁場強度越高。此靈敏度不代表實際能檢測缺陷的大小。

1.1.3A型標準試片中有圓形和十字形人工槽，A型標準試片型號，相對槽深與材質(zhì)：

型     號：Al型標準試片分為A—15／100，A—30／100，A—60／100

     試片相對槽深其分子為人工槽深度，分母為試片厚度。

靈敏度材料：高超高純低碳純鐵（C＜0.03%，HC＜80A/m經(jīng)退火處理）

1.I.4應根據(jù)對探傷靈敏度的要求，選用相應的A型標準試片。當需要更強的有效磁場時，可用標準試片型號的倍數(shù)來表示，例如

A—30／100×2表示進行探傷的磁化電流應為A—30／100型試片上獲得磁痕的磁化電流的2倍。

1.1.5使用A型標準試片時，應將沒有人工槽的一面置于外側(cè)，并用粘膠紙將試片緊貼在探傷面上。注意粘膠紙不可貼沒人工槽相對應的部位。

1.1.6對A型標準試片施加磁粉時，應采用連續(xù)法。

1.1.7A型標準試片的形狀、尺寸發(fā)生變化后，不得繼續(xù)使用。

1.2C型標準試片

1.2.1C型標準試片適用于焊接坡口等狹窄的部位，即因尺寸關系，使用A型標準試片有困難時，它可用來代替A型標準試片。這種

試片必須經(jīng)有關計量部門鑒定。

1.2.2C型標準試片材質(zhì)與A型標準試片相同。幾何尺寸如圖2所示。其厚度為50m，人工槽深度為8±1m。

1.2.3C型標準試片使用時沿分割線切成5mmXlOmm的小片。用適當?shù)碾p面粘膠紙或粘結(jié)劑將有人工槽的一面緊貼在探傷面上。

1.2.4對C型標準試片施加磁粉時，應采用連續(xù)法。5.2.5C型標準試片的形狀、尺寸、磁特性發(fā)生變化時，不得繼續(xù)使用。

1.3B型對比試片

1.3.1B型對比試片用來檢查探傷裝置、磁粉和磁懸液的綜合性能。

1.3.2B型對比試片采用電磁軟件，或與試件相同材質(zhì)的材料制成。其幾何尺寸如圖3所示。

1.3.3使用B型對比試片采用穿棒法連續(xù)磁化。

2探傷工序

2.1原則上應在結(jié)束一切加工及處理工序后一定時間進行探傷。若表面處理工藝會給缺陷檢測帶來困難時，則可在表面處理前

進行探傷。

2.2對于滾動軸承等裝配件，如在探傷后無法完全去除磁粉而影響產(chǎn)品質(zhì)量時，則應在零件裝配前進行探傷。

來    源:磁粉探傷機

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