現(xiàn)今在磁粉探傷中一般選用高斯計(jì)及毫特斯拉計(jì)來(lái)檢測(cè)磁粉探傷儀或磁粉探傷機(jī)、退磁機(jī)的退磁效果，那么這類檢測(cè)退磁的計(jì)量?jī)x器它們的原理是什么呢？

我們現(xiàn)在對(duì)于工件表面的剩磁要求是低于2GS，對(duì)于這么小的數(shù)值，需要比較靈敏的元器件來(lái)檢測(cè)，在最早是利用霍爾傳感器來(lái)檢測(cè)。

其原理是通電的片狀N型半導(dǎo)體的平面與磁場(chǎng)強(qiáng)度為H的磁場(chǎng)相互垂直，后在片狀N型半導(dǎo)體的非通電側(cè)形成霍爾電位差UH，其三者之間的關(guān)系為UH=RHμHI/δ，其中δ為半導(dǎo)體板的厚度，RH霍爾系數(shù)，μ為磁導(dǎo)率。

利用此原理制成的高斯計(jì)及毫特斯拉計(jì)測(cè)量精度高，測(cè)量結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，可直觀顯示缺陷磁場(chǎng)的大小和方向。

后期又發(fā)現(xiàn)可以利用磁敏二極管來(lái)代替霍爾傳感器制成精度更高的高斯計(jì)及毫特斯拉計(jì)。

其原理是磁感應(yīng)強(qiáng)度在0.1T以下時(shí)，磁敏二極管輸出特性曲線近似線性關(guān)系，其性能相當(dāng)于普通二極管的PN結(jié)特性。

利用此原理制成的高斯計(jì)及毫特斯拉計(jì)測(cè)量精度更高，測(cè)量結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單。

以上就是磁粉探傷中一般選用高斯計(jì)及毫特斯拉計(jì)來(lái)檢測(cè)磁粉探傷儀或磁粉探傷機(jī)、退磁機(jī)的退磁效果的原因。

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